en tant que composant électronique, la diode électroluminescente est apparue plus de 40 ans. mais pendant longtemps, limité par l'efficacité lumineuse et la luminosité, la diode électroluminescente est un indicateur lumineux. Jusqu'à la fin du siècle dernier, le goulot d'étranglement technique a été brisé, produit une luminosité élevée et un rendement élevé. uv led , qui a étendu sa portée d'application à la lampe de signal, au projet de vue de nuit de ville, à l'écran polychrome, etc., et a fourni la possibilité de la source d'éclairage. avec l'augmentation du champ d'application conduit, il est plus important d'améliorer la fiabilité menée.

led a les avantages de petit volume, faible consommation d'énergie, longue durée de vie, protection de l'environnement, haute fiabilité. dans le processus de production et de développement réel, le niveau de fiabilité de puce menée doit être évalué à travers le test de la vie, et améliore le niveau de fiabilité de la puce led grâce à la rétroaction de qualité pour assurer la qualité de la puce led. afin de réaliser l'industrialisation de toute la couleur menée, les conditions, méthodes, moyens et dispositifs pour le test de vie de puce menée sont développés, de manière à améliorer la nature scientifique et la précision des résultats.

détermination des conditions d'essai de la vie

dans les conditions de travail et d'environnement spécifiées, le travail des produits électroniques est appelé test de vie, également connu sous le nom de test de durabilité.

Avec l'amélioration de la technologie de production dirigée, la vie et la fiabilité des produits se sont grandement améliorées. la durée de vie théorique de led est de 100 000 heures. Si le test de durée de vie est toujours utilisé dans des conditions normales de contrainte nominale, il est difficile de faire une évaluation plus objective de la durée de vie et de la fiabilité du produit. Cependant, le but principal de l'expérience est de comprendre l'atténuation de puce menée par ultraviolet sortie optique par un test de la vie, puis d'en déduire sa durée de vie.

selon les caractéristiques de dispositifs dirigés par uv , après test de comparaison et analyse statistique, les conditions de test de vie des micropuces sont spécifiées sous 0.3x ~ 0.3mm2 à la fin:

1. l'échantillon a été choisi au hasard, et la qualité était de 8 ~ 10 puces, composée de lampe unique ф5.

2. le courant de travail était 30ma.

3.la condition de l'environnement est la température intérieure (25 ℃ ± 5 ℃).

4.la période d'essai a été divisée avec 96 heures, 1000 heures et 5000 heures.

le courant de travail 30ma est 1,5 fois de la valeur nominale, est le test de la vie de l'augmentation des contraintes électriques. son résultat ne peut pas représenter l'espérance de vie réelle, mais il y a beaucoup de valeur de référence. le test de vie a été fait par les tranches épitaxiales, a été extrait au hasard de 8 ~ 10 puces dans l'une des tranches épitaxiales, a effectué 96 heures de vie, dont le résultat représentait toutes les tranches épitaxiales produites dans ce lot de production.

Dans l'ensemble, on croit que le cycle d'essai de 1000 heures ou plus est appelé test de vie à long terme. lorsque le processus de production est stable, la fréquence de test de vie de 1 000 heures est faible et la fréquence de 5 000 heures de test de vie est plus faible.

procédures et précautions

pour puce menée des échantillons de test de vie peuvent être utilisés une puce, qui communément connu comme un cristal nu, peut également être utilisé le dispositif qui est encapsulé.

en utilisant la forme de cristal nu, la contrainte externe est petite et facile à dissiper la chaleur. par conséquent, l'atténuation de la lumière est faible, la durée de vie est longue, il existe un écart à l'application réelle, il peut être ajusté en augmentant le courant, mais il est préférable d'utiliser un seul dispositif de lampe directement.

l'expérience de vie du dispositif à lampe unique a compliqué les facteurs de photo-vieillissement des dispositifs. il peut y avoir un facteur de puce, il y a aussi des facteurs d'encapsulation. dans le processus d'expérience, en prenant une variété de mesure, en réduisant l'impact de l'encapsulation, en améliorant les détails de la précision des résultats des tests, seulement de cette manière, l'objectivité et la précision des résultats des tests sont garanties.

1. méthode d'extraction d'échantillon

le test de vie ne peut utiliser que la méthode de test d'échantillonnage, qui présente certains risques.

Premièrement, la qualité du produit a un certain degré d'uniformité et de stabilité, ce qui est la prémisse de l'évaluation d'échantillonnage. seulement si la qualité du produit est uniforme, l'échantillonnage est représentatif.

deuxièmement, parce que la qualité réelle du produit a une certaine discrétion, nous avons pris la méthode de l'échantillonnage aléatoire de partition pour améliorer la précision des résultats des tests de la vie. en cherchant l'information pertinente et en effectuant un grand nombre d'expériences comparatives, nous avons proposé une méthode d'extraction d'échantillon plus scientifique: selon sa position dans la puce épitaxiale, la puce est divisée en quatre zones, avec 2 ~ 3 puces dans chaque région, et 8 ~ 10 puces au total. pour différents appareils a différents résultats de test de vie et même contradictoires. Nous avons stipulé une méthode pour le test de vie qui est avec 4 ~ 6 puces dans chaque région, et 16 ~ 20 puces au total, testé dans des conditions normales. seule la quantité a été resserrée, pas la condition d'essai.

troisièmement, en règle générale, plus l'échantillon est grand, plus le risque est petit, plus le résultat des tests de vie est précis. cependant, plus on échantillonne d'échantillons, plus le gaspillage de main-d'œuvre, de ressources matérielles et de temps est inévitable, et le coût des tests doit augmenter. c'est ce que nous avons travaillé sur la façon dont nous traitons la relation entre le risque et le coût. notre objectif est de maximiser le risque au même coût en adoptant une approche d'échantillonnage scientifique.

2. méthode d'essai de paramètrephotoelectric et courbe de distribution d'appareil

dans le test de vie de led, l'échantillon de test a été tamisé par un test de paramètres photoélectriques au début. les paramètres photoélectriques anormaux ou les dispositifs ont été éliminés. les produits qualifiés doivent être numérotés et soumis à l'essai de durée de vie. l'essai devrait être effectué après l'essai continu, pour obtenir les résultats du test de vie.

Afin de rendre les résultats des tests de vie objectifs et précis, sauf pour bien mesurer l'instrument, il est également stipulé que le même instrument de test sera utilisé avant et après le test, qui est de réduire les erreurs inutiles. ceci est particulièrement important pour les paramètres de lumière. au début, nous avons utilisé le changement d'intensité lumineuse du dispositif de mesure pour juger de l'état de la lumière. l'intensité de la lumière axiale du dispositif de test général, pour un dispositif avec un demi-angle de la courbe de distribution de la lumière, la magnitude de l'intensité lumineuse varie considérablement avec la géométrie, mesurant la répétabilité est faible, ce qui affecte l'objectivité et la précision résultats de test. afin d'éviter cette situation, on adopte un grand angle d'encapsulation, et on choisit aucun porte-gobelet réflecteur, pour éliminer l'effet de gobelet de réflexion avec la lumière, pour éliminer dans l'influence de la performance optique et améliorer la précision du test de paramètre optique . l'adoption subséquente de la mesure du flux lumineux est vérifiée.

3. l'effet des résines sur le test de la vie

la transparence du matériau d'encapsulation époxy existant est réduite par le rayonnement ultraviolet, est le photo-vieillissement des matériaux polymères, est le résultat d'une série de réaction complexe impliquant un rayonnement ultraviolet et de l'oxygène. on croit généralement que le processus d'oxydation automatique causée par la lumière. l'influence de la détérioration de la résine sur les résultats des tests de vie reflète principalement 1 000 heures ou plus de test de longue durée. à l'heure actuelle, les résultats du test de la vie peuvent être améliorés en réduisant autant que possible le rayonnement ultraviolet. à l'avenir, il peut également être utilisé pour sélectionner des matériaux encapsulés, ou pour vérifier la valeur de décroissance optique de la résine époxy, et pour l'exclure du test de durée de vie.

4. l'effet du processus d'encapsulation sur le test de vie

processus d'encapsulation a une grande influence sur le test de vie. Il a été utilisé résine transparente, qui peut directement observer la fixation interne et la liaison au microscope pour l'analyse de la défaillance. mais tous les défauts d'encapsulation ne peuvent pas être observés. par exemple, la qualité et le processus de collage des joints de soudure sont étroitement liés à la température et à la pression. une température trop élevée et une pression trop élevée provoquent une déformation de la puce. ainsi, en introduisant une dislocation et même une fissure foncée, qui affecte l'efficacité et la durée de vie de la lumière.

le changement de contrainte attrayant de la liaison de tête, l'encapsulation de résine, tels que la dissipation thermique, le coefficient de dilatation sont les facteurs importants qui influent sur les résultats des tests de vie. les résultats de son test de vie sont pires que ceux de la vie de cristal nu. cependant, pour la puce à faible intensité de courant, la gamme de qualité de l'évaluation est augmentée, et les résultats des tests de durée de vie sont plus proches de l'utilisation réelle, qui a une certaine valeur de référence pour le contrôle de production.